什么是焦点探查？
Focus Probing技术使用户首次能够快速测量单个3D点和3D轮廓，而不需要垂直扫描。它允许在单个位置从传感器数据中测量计量正确的3D点和轮廓。 用Focus Probing获得的3D轮廓和点可用于各种应用，包括快速测量特征，如距离和直径，或用于将样品与CAD数据集对齐。测量三维数据集的传统方法，如高级聚焦变化和垂直聚焦探测，提供了一个基于区域的三维数据集，由于在Z轴上扫描，需要更多时间。
焦点探测是如何工作的？
新方法 "聚焦探测 "的测量原理与 "垂直聚焦探测 "技术非常相似，不同之处在于不涉及垂直扫描，而是从单个位置的传感器数据中获得三维信息。与垂直聚焦探测技术一样，聚焦探测技术也可以测量垂直墙面上的轮廓，而且还可以在一个视场内同时测量多个三维轮廓。
测量实例：
孔距测量
一个应用实例是两个激光钻孔之间的快速距离测量。这两个孔的轮廓是用Focus Probing测量的。等高线数据集在三维坐标系中自动对齐，以进行两个孔中心之间的快速距离测量。
Focus Probing的优点是处理时间快。通过聚焦探测，可以在三维坐标系中收集高精度的二维轮廓线。由于高效的数据采集方式，测量时间和处理时间大大减少。这导致了基于轮廓的应用的快速测量。
