基于轮廓和面积的粗糙度测量的光学轮廓仪

IF-Profiler是一个手持式3D粗糙度测量系统，用于高分辨率测量表面粗糙度。用户只用一个系统就可以测量平面和曲面部件的粗糙度。测量是基于轮廓（ISO 4287）和基于面积（ISO 25178）进行的。

技术规格

测量标准	非接触，光学，立体三维，基于Focus Variation 自动变焦技术
定位量 (Z)	25 mm (自动)

物镜放大倍数		x10	x20	x50
工作距离	mm	17.5	16	10.1
横向测量范围(X,Y)	mm	2	1	0.4
(X x Y)	mm²	4	1	0.16
垂直分辨率	nm	100	50	20
最小可测量表面轮廓粗糙度 (Ra)	µm	0.3	0.24	0.18
最小可测量表面面粗糙度 (Sa)	µm	0.15	0.12	0.9

用于表面粗糙度测量的轮廓仪

除了用于精确表面粗糙度测量的 IF-Profiler 轮廓仪外，Bruker Alicona 还提供多种光学测量仪器。我们的产品组合包括光学坐标测量机，用于对复杂部件进行高精度和可靠的3D测量；协作机器人（cobots），适用于在生产中灵活和安全地自动化测量任务；以及像 PortableRL 这样的便携式测量设备，使现场测量变得简单和便捷。

如果您不确定哪种测量系统适合您的应用，请联系我们的专家。他们很乐意为您提供帮助。探索我们丰富的产品，找到满足您测量需求的最佳解决方案。