垂直焦点探测是测量技术中的一个游戏规则改变者

本次网络研讨会是关于部件的光学横向探测。到目前为止，诸如孔和垂直自由形状的几何形状几乎无法用光学方法测量。具有垂直表面的部件的横向探测仅限于触觉测量系统、CT解决方案或复杂的特殊解决方案。有了垂直焦点探测，这种情况就改变了，它可以对超过90°的部件进行光学测量。在网络研讨会的第一部分，我们将向您展示垂直焦点探测的可能性，有哪些限制，当然还有为什么我们能做到这一切。在第二部分，来自不同行业的不同组件被验证。我们将向您展示哪些部件的特征可以用光学方法进行高精度测量，以及为什么触觉系统在这里达到了极限。

在这次网络研讨会上你可以期待什么？

• 首先，您将看到对机芯个别部件的测量，以及在精密制造方面有哪些不同要求。就钟板和自动上链机构而言，主要的要求是距离尺寸、直径、高度步骤和GD&T方面的尺寸精度，例如位置公差。通过结合焦点变化技术、垂直焦点探测技术和测量系统µCMM，只需从一个观察方向就能实现快速和高度精确的测量，而无需进一步操作部件。
  
• 在第二个应用中，我们不仅向您展示了德国TE Connectivity公司的一个连接器的测量结果，而且还展示了我们的技术在哪些制造步骤和工具中的应用。
  这些包括：
  • 表面涂层的粗糙度和缺陷测量
  • 模具的GD&T测量
  • 冲床和压花冲头以及
  • 用垂直焦点探测法测量超过90°的内部几何形状。