光学三坐标测量机为生产测量技术打开新的大门

在这次网络研讨会上，我们将谈论最精确的纯光学微坐标测量系统µCMM的技术规格和计量特性。关注µCMM的技术发展成就，并观看由Alicona研发主管Franz Helmli介绍的Alicona计量休息室的现场测量。

在这个网络研讨会上，你会了解到更多关于

• 生产测量技术的现状和挑战
• 如何通过µCMM的应用来克服这些挑战
• 如何使用单一的Focus-Variation传感器来测量尺寸、位置、形状和粗糙度