Misurazione senza contatto di piastre bipolari

Questo report di misura riguarda la forma, l'accuratezza dimensionale e la rugositá superficiale delle piastre bipolari, che sono critiche e difficili da misurare. Le soluzioni di metrologia ottica 3D Bruker Alicona consentono di misurare le caratteristiche GD&T di questi componenti critici senza contatto fisico.

L'attenzione principale per le piastre bipolari è l'accuratezza dimensionale dei campi di flusso. Con il sistema di misura ottico a coordinate µCMM, gli utenti misurano raggi, passi di altezza e distanze. Altri parametri sono la rugosità areale (Sa, Sq, Sz) sul fondo del canale e sulla matrice.

Questo report di misura è stato creato in collaborazione con Fraunhofer IPT e AVL.