Che cos'è Vertical Focus Probing?
Il Vertical Focus Probing (VFP) si basa sull'uso di un cono di luce parziale. I singoli raggi di luce riflessi in modo diffuso dalle superfici verticali vengono catturati dalla lente. È possibile misurare fianchi di oltre 90° in modo tracciabile, ripetibile e ad alta risoluzione. I fianchi verticali così misurati possono essere utilizzati, ad esempio, per l'adattamento di un sistema di coordinate del pezzo.
Finora era difficile misurare otticamente geometrie come i fori delle valvole di iniezione nell'industria automobilistica. L'ispezione laterale di componenti con superfici verticali era limitata ai sistemi di misura tattile, alle soluzioni CT o a complesse soluzioni personalizzate. La situazione cambia con il Vertical Focus Probing: Basato su misurazioni di area, permette il rilevamento ottico dei componenti su tutta la superficie.
Misurazione di superfici inclinati con angoli superiore a 90°
La Vertical Focus Probing si basa sull'uso della luce parziale. Ciò significa che, oltre alla luce coassiale, viene utilizzata anche luce proveniente da diverse direzioni. Di conseguenza, i singoli raggi di luce riflessi in modo diffuso dalle superfici verticali sono catturati dall'obiettivo, consentendo la misurazione tracciabile e ripetibile ad alta risoluzione di fianchi con inclinazione superiore a 90°.
La percentuale di raggi luminosi riflessi dipende dalla geometria e dalla rugosità della superficie da misurare, nonché dalla sorgente luminosa utilizzata. Anche l'obiettivo gioca un ruolo importante, poiché, a seconda del suo diametro, un obiettivo può anche catturare la luce riflessa da superfici che mostrano fianchi con inclinazione superiore a 90°. Qui entra in gioco l'apertura numerica (AN), definita dal diametro dell'obiettivo e dalla distanza di lavoro. Essa influenza quanto la pendenza misurabile di una superficie può ancora superare i 90°.
Differenza tra Focus-Variation e Vertical Focus Probing
La technologia Vertical Focus Probing, come la Focus-Variation, si basa sulla scansione verticale della superficie da misurare. La curva di informazione della Focus-Variation viene valutata per ogni posizione. La differenza rispetto alla Focus-Variation è che nel Vertical Focus Probing non viene calcolato solo uno, ma più valori Z per ogni punto di misura (XY). Questi valori Z rappresentano la superficie verticale.
Cosa c'è di speciale nella tecnologia Vertical Focus Probing?
Campi di utilizzo
La Vertical Focus Probing può essere utilizzata per un'ampia gamma di applicazioni nella metrologia dimensionale, rispettivamente in tutti i settori dell'industria manifatturiera e della produzione. Tra gli altri, l'industria degli utensili, la produzione di precisione, l'industria automobilistica e il settore aerospaziale beneficiano di nuove possibilità di misura ogni volta che si tratta di componenti con superfici verticali. Caratteristiche quali fori, alesaggi, superfici di riferimento, contorni, lunghezze, ecc. possono essere misurati otticamente con elevata precisione, ad alta risoluzione e con tempi di misura brevi.
