Détection et mesure automatiques des défauts grâce à l'IAConférence

Détection et mesure automatiques des défauts grâce à l'IA.

L'intelligence artificielle a déjà trouvé sa place dans de nombreux domaines de notre vie quotidienne. Des appareils courants tels que nos téléphones intelligents sont dotés de capacités dont on ne pouvait que rêver il y a quelques années. Les machines apprennent par l'expérience et peuvent ainsi résoudre les problèmes les plus complexes. Cela est principalement rendu possible par de nouveaux types d'algorithmes, une puissance de calcul accrue et une grande quantité de données collectées. Ces développements décisifs élargissent également le spectre des possibilités pour les fabricants d'équipements de mesure. Chez Bruker Alicona, nous utilisons l'IA dans des algorithmes de mesure de données optiques 3D à haute résolution et pour l'évaluation automatique de ce même ensemble de données 3D. Au cours de cette session, Thomas Lankmair, responsable du centre de compétence en matière d'applications (ACC) chez Bruker Alicona, montrera quelles tâches de mesure peuvent être résolues grâce à l'IA. Il présentera des applications qui auraient été difficiles ou impossibles à résoudre avec des méthodes conventionnelles. Il s'agit notamment d'une solution basée sur l'IA pour la détection et la mesure automatiques des défauts. Nous vous montrerons également comment vous pourrez bientôt intégrer l'IA dans votre technologie de mesure de manière indépendante.

La conférence est en anglais.

Conférencier : Thomas Lankmair | Responsable du Centre de compétences des applications (ACC) chez Bruker Alicona

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